销售地区
厂商性质
美国asi j200 la飞秒激光剥蚀进样系统激光进样系统与等离子体质谱连用,组成la-icp-ms系统,对样品的元素组成、元素分布进行检测。可与市面上的普通四级杆质谱仪、飞行时间质谱仪和多接收质谱仪等常见质谱仪联用。
j200飞秒激光剥蚀进样系统(la)术可靠性提升到一个新高度,可应用于矿物元素定量分析、锆石u-pb定年、矿物熔体和流体包裹体分析、微区同位素分析和定年技术研究等地质研究领域,并在所有采样点上实现一致的激光剥蚀,这一创新的传感器特性是由应用光谱公司科学团队研发的一项技术,具备三种照明模式来提高图像质量和对比度:扩散式led光源,透射光和同轴反射光,光的强度和颜色可控。
j200飞秒激光剥蚀进样系统是la-icp-ms技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破,为了准确定量的分析元素和同位素,需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质,icp源的颗粒能完全被消解
已咨询1006次
激光剥蚀进样系统
已咨询3430次
激光剥蚀进样系统
已咨询2140次
激光剥蚀进样系统
已咨询5003次
激光剥蚀进样系统