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su3900/su3800 se系列作为fe-sem产品,配置超高分辨率与观察能力。此系列突破了传统sem产品受安装样品尺寸与重量的限制,通过简单的操作即可实现数据采集。可用于钢铁等工业材料,汽车、航空航天部件等超大、超重样品的观察。 此外,se系列包括4种型号(两种类型,两个等级),满足众多领域的测试需求。用户可以根据实际用途(如微观结构控制:用于改善电子元件、半导体等材料的功能和性能;异物、缺陷分析:用于提高产品品质)选择适合的产品。
1波长范围:400 - 1000 nm 2每一像素同时检测时间(toa)和强度(tot)3时间分辨率1.6 ns,有效帧速率> 500 mhz 4无损、数据驱动读出速度高达80 mhits / s
高性能电子光学系统 二次电子分辨率: 顶位二次电子探测器(2.0 nm at 1kv)* 高灵敏度: 高效pd-bsd, 超强的低加速电压性能,低至100 v成像 大束流(>200 na): 便于高效微区分析 性能优异 压力可变: 具有优异的低真空(10 -300 pa)成像性能,配备高灵敏度低真空探测器(uvd)* 开仓室快速简单换样(z大样品尺寸: φ 200 mm x 80 mmh) 微区分析: eds, wds, ebsd等等
particlex tc 全自动汽车清洁度分析系统 取代传统颗粒物清洁度检测方法,允许工程师看见微米尺寸的颗粒并确定其化学成分,从而判断出污染源。
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