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spectra新的检测功能,使科学家和工程师能够获得以前难以获得的原子级数据,以满足更广泛的应用需求。该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像,包括金属有机框架,沸石和聚合物,如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用edx(能量分散x射线)或eels(电子能量损失光谱)等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。
phenom pharos stem 台式场发射电子显微镜,从另一个维度提高了其成像能力和 应用的多样性。 pharos stem 电子显微镜,利用 feg 高亮度电子源,可在透射模式下对薄样品进行成像。专用的样品夹可轻松装载常规 3mm 直径透射电镜(tem)载网,实现样品的快速、安全切换。可提供明场 (bf) 、暗场 (df) 和高角度环形暗场 (haadf) 像,并支持自定义选择成像模式。
专用扫描透射显微镜hd-2700,配备了与德国ceos gmbh公司(总经理max haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。
该平台可以获得极其光束敏感的材料和半导体结构的详细图像,包括金属有机框架,沸石和聚合物,如果暴露在电子束中太长时间或在错误的电压下可能会损坏或破坏。它还满足了使用edx(能量分散x射线)或eels(电子能量损失光谱)等多种方式对大量原子级化学分析的不断增长的需求。
•更高亮度的电子源 •更简单的电气特性分析 •高动态范围映射
专用扫描透射显微镜hd-2700,配备了与德国ceos gmbh公司(总经理max haider先生)共同开发的球差校正仪,显著提高了扫描透射电子显微镜的性能,更适合高纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差,使其与标准型号显微镜相比,分辨率提高了1.5倍,同时,探针电流提高了10倍。
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