表面测量仪器 -大发棋牌
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- 广州安妙 ar-132a 广东 广州
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- 安妙粗糙度仪可以广泛适用于生产现场，可测量多种机加工零件的表面粗糙度，根据选定的测量条件计算出相应的参数，在液晶显示器上清晰地显示出全部测量参数。
粗糙度仪
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- 美国filmetrics profilm3d 美洲 美国
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- kla profilm3d 是一款3d白光干涉轮廓仪。kla profilm3d 光学轮廓仪使用垂直干涉扫描(wli)技术与相位干涉(psi)技术。以较低的价格实现次纳米级的表面形貌研究。采用白光干涉原理，不损伤样品。
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台阶仪
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- 广州安妙 ar-131a 广东 广州
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- 安妙喷砂喷丸粗糙度仪ar-131a一体式设计，符合astm d4417方法c和nacerp0287-95测试方法，可直接测量表面的峰顶谷底的高度，适用于：喷丸喷砂行业、印刷行业、喷涂防腐行业等表面粗糙度需求的行业使用，根据选定的测量条件计算出相应的参数，在液晶显示器上清晰地显示出全部测量参数。
粗糙度仪
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- 美国kla p-17 美洲 美国
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- kla p-17 探针式台阶仪是p系列探针式台阶仪的产品。该系统具备可编程扫描平台、低噪声电子分辨率，垂直范围内实现高分辨率扫描，能够覆盖样品表面整个区域。 kla p-17 探针式台阶仪的优点包括200mm扫描平台，可以在无需拼接的情况下测量整个基片。ultralite传感器组件结合了线性垂直测量和恒定力控制，可测量各种材料和地形。顶视图和侧视图光学系统可实现简单的位置教学、图案识别，并在测量
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- bruker台阶仪探针 布鲁克台阶仪（探针式表面轮廓仪）探针，是布鲁克台阶仪（探针式表面轮廓仪）专用探针。
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- 德国布鲁克 contourgt 3d 欧洲 德国
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- 美国kla p-170 美洲 美国
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- kla p-170 全自动探针式表面轮廓仪一款盒对盒型台阶仪，具有kla p-17 探针式表面轮廓仪的台式系统测量性能和hrp260系统经生产验证的处理程序。该系统提供了一个可编程的扫描平台、低噪音和整个垂直范围内的亚安格伦电子分辨率，可以在样品表面的任何地方进行高分辨率扫描。
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- 美国kla d-600 美洲 美国
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- kla d600 探针式表面轮廓仪采用光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。多种力度调节和探针尺寸选择可以让机台对各种结构和材料进行准确测量。这些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改变，以及测量由材料结构改变引起的粗糙度和应力变化。
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- 美国kla d-500 美洲 美国
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- kla d500 探针式表面轮廓仪的光学杠杆传感器技术提供高分辨率、较大的高度测量范围和准确的微力控制。探针的接触式测量技术的优点是直接测量，与材料特性无关。多种力度调节和探针尺寸选择可以让机台对各种结构和材料进行准确测量。这些功能可以表征因添加或移除材料而引起的形貌特征改变，以及测量由材料结构改变引起的粗糙度和应力变化。
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- 美国kla p-7 美洲 美国
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- kla p-7 探针式台阶仪是kla公司的探针式台阶仪系统。kla p-7 探针式表面轮廓仪建立在p-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了p-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了性价比。kla p-7 探针式台阶仪可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2d和3d测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。
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- 布鲁克 contourx-200 亚洲 其它
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- contourx- 200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统,配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动xy载物台,可提供高性能的的2d / 3d高分辨率测量功能。 1. 超强 led 双光源，白光和绿光 2. 垂直测量范围： 0.1nm 至 10mm；为了保证测量精确性，全量程闭环扫描，可连续测量0.1nm 到 10mmz 向起伏样品，无需缝合拼接 3. 垂直方向的分辨率：≤0.1nm； 4. rms 测量的重复性：0.01nm； 5. 台阶高度测量准确性：≤0.75%； 6. 台阶高度测量重复性：≤0.1%； 7. 测量台：x-y 行程 150mm×150mm，自动控制；z 方向最大行程 100mm，自动控制; 测量台倾斜俯仰(±6°)； 8. 最大样品测试高度：100mm； 9. 采样点数：≥1280*960； 10. 真彩色模块，含彩色 ccd 摄像头和彩色分析模块，实现样品真彩色三维形貌测量。 11. 横向分辨率：≤0.5µm 12. 样品反射率：<0.05%至 100%； 13. 具备自动聚焦功能，自动调光强功能 14. 具有无缝拼接功能，专利设计螺旋拼接，可以提高拼接速度，节省测试时间。 15. 自动目镜切换系统，可选 1x，0.55x, 2x 目镜（至少选择一个镜头） 16. 5 孔自动物镜塔台（选配） 17. 白光干涉物镜 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x （至少选择一个镜头） 18. 真彩色模块信号采集系统，分辨率 1280*960 19. 配备超光滑 si-c 样品和带 8um 台阶样品
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- ·优质的测量与分析功能 ·先进计量设备 ·zg性能表面计量
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- 德国布鲁克 contourx-500 欧洲 德国
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- 美国filmetrics f3-sx 美洲 美国
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- filmetrics f3-sx 白光干涉膜厚测量仪利用光谱反射原理，可以测量厚度达到3毫米的众多半导体及介电层薄膜。相对于较薄的膜层，这种厚膜的表面较粗糙且不均匀，f3-sx系列膜厚仪配置10微米的测量光斑，从而可以容易地测量其他膜厚测量仪器不能测量的膜层，并且仅在几分之一秒内完成。f3-sx膜厚仪在si晶圆厚度测量、护涂层、ic芯片失效分析、厚光刻胶等方面优异表现。
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- kla tencor p7 /p17 美洲 美国
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- 德国布鲁克 npflex-1000 欧洲 德国
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- 落地式npflex-1000白光干涉（wli）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面™ 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。结合自适应usi测量模式和引导、简化的visionxpress ™ 界面，npflex-1000为汽车、医疗器械和增材制造等生产领域提供了毫不妥协的计量方法.
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- 德国布鲁克 contourx-1000 欧洲 德国
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- 落地式contourx-1000 白光干涉（wli）系统集成了bruker 在硬件和软件上的z新技术， 可 用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面 （advanced find surface ™）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 usi 和简 洁的引导式 visionxpress ™操作界面，contourx-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。
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- 德国布鲁克 contourx-100 欧洲 德国
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- contourx-100光学轮廓仪以z佳的价格为准确和可重复的非接触式表面计量树立了新的标杆。 该小尺寸系统采用流线型设计，结合了数十年专有的布鲁克白光干涉仪（wli）创新，可提供毫不逊色的2d/ 3d高分辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有业界z先进的友好用户界面，可直观访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜和摩擦学应用分析。
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- contourx-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定 制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的 非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动xy载物台，可提供高性能的的2d/3d高分辨率测量功能。
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- contourx-500光学轮廓仪是世界上z全面的快速，非接触式3d表面计量自动化台式系统。该系统集成了布鲁克专有的自动倾斜光学测头，可以完全编程并自动测试一定角度范围内的表面特征，并能z大程度地减少跟踪误差。
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粗糙度仪
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目前已广泛应用于工业设计行业中，从仿样、设计、加工全过程数字化，真正为客户实现了“一机在手，设计无忧”！ 公司拥有光学、软件、电子、图像处理、精密机械、自动化控制等专业的研发团队，专注于光机电数字精密仪器测量检测领域的技术研发及生产，广泛应用于工业视觉2d、3d复杂尺寸的测量和产品缺陷的检测。自主研发 工业视觉检测系统、数控和机器人控制系统、工业机器人工作站等软硬件产品。
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怡信手持式三维激光扫描系统，能够完成各种大小工件以及逆向工程和形面三维检测应用 公司拥有光学、软件、电子、图像处理、精密机械、自动化控制等专业的研发团队，专注于光机电数字精密仪器测量检测领域的技术研发及生产，广泛应用于工业视觉2d、3d复杂尺寸的测量和产品缺陷的检测。
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emt-6050hc 系列手动三维外观镜像仪，采用上等光学系统，具有低畸变，高分辨率，大景深，市场宽大且平坦，齐焦性好等特点，设计新颖，操作简便。可手动切换 2d，3d 观察角度，采用 3d 镜像效应观察立体元器件，音网和深孔，切换时清晰度保持不变，中心位置一致。
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p-7建立在市场领先的p-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。 它保持了p-17技术的测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了好的性价比。
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kla先进的探针式台阶仪alpha-step d-600，可测量纳米级至1200um台阶高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波纹度、应力。且其具有5.0a (1σ)或0.1%台阶高度重复性以及亚埃级的分辨率
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